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吉时利 Keithley 2651A源表

型号:2651A,指标:输出电压:40V,输出电流:50A,功率:2000W,测量分辨率:100fA / 100nV

类别:


产品信息

产品简介

Keithley 2651A 是吉时利(Keithley)2650 系列大功率系统 SourceMeter SMU 中的旗舰机型,专为高功率电子器件的精密特性分析和量产测试而设计。2651A 提供业界最高的脉冲功率输出——2000 W 脉冲与 200 W 直流,能够以 40 V / 50 A 的极限参数直接驱动和表征高亮度 LED、功率半导体、DC-DC 转换器及电池等大功率器件,无需外部电源放大器或复杂的功率扩展电路。

该仪器将四象限精密电压/电流源与电子负载、6½ 位数字万用表、任意波形发生器、脉冲发生器及电子负载深度集成,以单一 2U 半机架式机箱实现了传统需要多台仪器才能完成的完整大功率 I-V 测试方案。2651A 支持 TSP(Test Script Processor)嵌入式脚本编程,可在仪器内部直接运行完整的测试序列,彻底消除 PC 与仪器之间的总线通信延迟,大幅提升高速产线分选效率。

2651A 具备可扩展架构,通过 TSP-Link 总线可将两台 2651A 并联实现 ±100 A 超大电流,或串联实现 ±80 V 更高电压,满足 GaN、SiC 等宽禁带功率器件的严苛测试需求。双 ADC 同步采样架构(18 位高速 ADC 与 22 位积分 ADC)兼顾速度与精度,1 μs/点的高速 ADC 能够精确捕获脉冲瞬态行为,而积分 ADC 则可提供高精度直流稳态测量。

产品优势

业界最高脉冲功率

2651A 提供高达 2000 W 的脉冲输出功率(±40 V @ ±50 A),是目前商用 SMU 中脉冲功率最高的型号,能够直接驱动和表征高功率 LED、大电流 IGBT 模块及功率 MOSFET 等器件。最小脉宽 100 μs、脉宽分辨率 1 μs,占空比可在 1%–100% 范围内灵活调节,精确控制脉冲能量,有效避免大功率测试中的器件自热效应。

超高直流功率

2651A 提供 200 W 直流输出功率,支持多种电压-电流工作模式:±10.1 V @ ±20 A、±20.2 V @ ±10 A、±40.4 V @ ±5 A,覆盖不同阻抗特性器件的直流测试需求。四象限源/吸收操作能力使其可同时作为电源和电子负载使用,在电池充放电循环测试与 DC-DC 转换器效率评估中表现尤为出色。

可扩展架构

通过 TSP-Link 高速仪器间总线,可将两台 2651A 并联以提供高达 ±100 A 的超大电流输出,或串联以获得 ±80 V 的更高电压范围。TSP-Link 通道间同步精度小于 500 ns,支持最多 64 通道同步扩展,轻松构建从单器件到多站点并行测试的全场景方案。

双 ADC 同时采样

2651A 配备双 ADC 同步采样架构:18 位高速 ADC 以 1 μs/点的速率捕获脉冲瞬态波形,能够精确表征器件的脉冲 I-V 特性和瞬态响应;22 位积分 ADC 提供 0.015% 基本测量精度,确保直流稳态测量的高准确度。两路 ADC 同时工作,一次脉冲即可同时获取瞬态和平均数据,显著提升测试信息密度与效率。

TSP 嵌入式脚本

2651A 内置 TSP(Test Script Processor)嵌入式脚本引擎,支持在仪器内部直接编写和运行完整的测试程序,包括数据处理、判定逻辑及条件分支。这一架构彻底消除了传统 GPIB/USB 通信中 PC 与仪器之间的总线延迟,使脉冲串模式可达到 1 M 读数/秒的极致速度(100 读数/突发 × 400 突发/秒),特别适合高速产线分选与多站点并行测试场景。

超宽动态范围

2651A 的电流测量动态范围覆盖从 100 A(双机并联)到 1 pA 的极限跨度,电压测量分辨率达 1 μV。单台仪器即可应对从大功率 IGBT 到低漏电流器件的全参数测试需求,无需在不同量程仪器之间切换。输入阻抗大于 10 GΩ,在高阻抗器件测试中保持优异的负载效应控制。

产品参数

核心规格概览

规格项目

Keithley 2651A 参数

最大脉冲功率

2000 W(±40 V @ ±50 A)

最大直流功率

200 W,多模式

电压量程

100 mV / 1 V / 10 V / 20 V / 40 V

电流量程(单机)

100 nA – 50 A

电流量程(双机并联)

±100 A

电压量程(双机串联)

±80 V

基本测量精度

0.015%(积分 ADC)

ADC 架构

18 位高速 ADC(1 μs/点)+ 22 位积分 ADC

输入阻抗

>10 GΩ

TSP 脚本引擎

内置,仪器内运行完整测试程序

通讯接口

GPIB / LXI Class C 以太网 / RS-232 / USB 2.1 / TSP-Link / 数字 I/O

电压源规格

量程

设置分辨率

源精度(1年)

最大电流

100 mV

5 µV

0.02% + 500 µV

50 A

1 V

50 µV

0.02% + 500 µV

50 A

10 V

500 µV

0.02% + 5 mV

20 A

20 V

500 µV

0.02% + 5 mV

10 A

40 V

500 µV

0.02% + 12 mV

5 A

电压测量规格(积分 ADC)

量程

测量分辨率

测量精度(1年)

输入阻抗

100 mV

1 µV

0.015% + 300 µV

>10 GΩ

1 V

10 µV

0.015% + 300 µV

>10 GΩ

10 V

100 µV

0.015% + 3 mV

>10 GΩ

20 V

100 µV

0.015% + 3 mV

>10 GΩ

40 V

100 µV

0.015% + 8 mV

>10 GΩ

功率输出规格

工作模式

电压范围

电流范围

功率

DC(低阻模式)

±10.1 V

±20 A

200 W

DC(中阻模式)

±20.2 V

±10 A

200 W

DC(高阻模式)

±40.4 V

±5 A

200 W

脉冲

±40 V

±50 A

2000 W

扩展:并联

±40 V

±100 A

4000 W 脉冲

扩展:串联

±80 V

±50 A

4000 W 脉冲

脉冲规格

参数项

规格

最小脉宽

100 µs

脉宽分辨率

1 µs

占空比范围

1% – 100%

50 A @ 0.05 Ω 上升时间(典型)

25 µs

50 A @ 0.8 Ω 上升时间(典型)

120 µs

20 A @ 1 Ω 上升时间(典型)

180 µs

脉冲串模式

100 读数/突发 = 1 M 读数/s @ 400 突发/s

系统速度指标

工作模式

读数速率

0.001 NPLC(至内存)

20,000 读数/秒

0.001 NPLC(至 GPIB)

10,000 读数/秒

HS ADC 模式(至内存)

38,500 读数/秒

HS ADC 模式(至 GPIB)

20,000 读数/秒

脉冲串(100 读数/突发)

1 M 读数/s @ 400 突发/s

触发与同步规格

参数项

规格

触发 IN→OUT 延迟

0.5 µs

TSP-Link 同步精度

<500 ns

最大同步通道数

64 通道

数字 I/O

14 位

接口与物理规格

参数项

规格

通讯接口

GPIB / LXI Class C 以太网 / RS-232 / USB 2.1 / TSP-Link

数字 I/O

14 位数字输入/输出

输入阻抗

>10 GΩ

接触检查

内置

大电容模式

支持,最大 50 µF

外形尺寸(H×W×D)

89 × 435 × 549 mm

重量

9.98 kg

电源

100–250 VAC,550 VA

冷却方式

强制风冷

仪器配置

标准附件

每台 Keithley 2651A 大功率系统 SMU 标准交付包含以下组件:

附件型号

描述

2651A-KIT-1A

低阻抗测试电缆套件

CS-1592-2

连接器组件

CS-1626-2

连接器组件

CA-557-1

检测线

7709-308A

数字 I/O 连接器

CA-180-3A

TSP-Link 线缆

产品文档 CD

可选附件

附件型号

描述

2651A-KIT-3

3 米长测试电缆套件

8010

大功率器件测试夹具

8020

接口面板

软件生态

Keithley 2651A 拥有完善的软件生态体系,从快速无编程测试到深度自动化集成,满足不同层次用户的测试需求。

KickStart 仪器控制软件

无需编程即可快速执行 I-V 特性测试,支持线性、对数、列表和双重扫描模式,以图形和表格形式实时显示测量结果。通过 GPIB、USB 或以太网连接,可同时控制多达 4 台 SMU 仪器。

TSP Express 嵌入式软件

基于浏览器访问的仪器内置软件工具,无需安装即可通过 LXI 以太网接口进行快速 I-V 曲线采集、数据查看和基本分析,适合桌面调试与快速验证场景。

ACS Basic 自动化检定套件

面向半导体器件全流程测试的 Python 编程平台,支持从单次测试到复杂项目树的灵活构建,兼容手动或自动晶圆探针台控制,具备数据管理与统计分析功能,满足研发到量产的完整自动化需求。

TSB 测试脚本构建器

图形化 TSP 脚本开发环境,支持拖拽式测试序列构建,无需深厚的编程背景即可快速创建仪器内置测试程序,充分发挥 TSP 嵌入式脚本的性能优势。

TSP Toolkit 开发工具包

面向高级用户的 TSP 编程 SDK,提供完整的 Lua 脚本开发环境和丰富的函数库,支持自定义算法、复杂数据处理和高级仪器控制,满足科研与前沿工程开发需求。

典型应用

Keithley 2651A 凭借其业界最高的脉冲与直流功率、可扩展架构及完善的软件生态,在高功率电子器件的研发、可靠性测试及量产分选中广泛应用。

高亮度 LED 测试

2000 W 脉冲功率可直接驱动大功率高亮度 LED(HB-LED)模块进行 I-V 和 L-I 特性测试,短脉冲模式有效避免结温漂移,确保光功率测量与电学参数表征的准确性和一致性。

功率半导体测试

覆盖功率二极管、功率 MOSFET、IGBT 及 BJT 等器件的全参数直流和脉冲测试,包括正向压降、击穿电压、阈值电压、跨导、导通电阻及漏电流等关键参数。可扩展架构满足大功率模块的全参数自动化测试需求。

DC-DC 转换器测试

四象限操作能力使 2651A 可同时作为输入电源和输出负载,结合内置脉冲发生器与任意波形功能,完整评估 DC-DC 转换器的效率、负载调整率、线性调整率及瞬态响应等性能指标。

电池测试

四象限源/吸收操作使 2651A 能够对电池执行完整的充放电循环测试,高精度电流测量(pA 级分辨率)可准确评估电池的自放电率、库仑效率和循环寿命。脉冲模式可用于电池内阻的交流阻抗评估。

GaN / SiC 宽禁带器件

宽禁带半导体器件(GaN HEMT、SiC MOSFET)对测试系统的高速脉冲能力和大功率输出要求严苛。2651A 的 25 μs 上升时间和 2000 W 脉冲功率能够精确表征 GaN/SiC 器件的动态导通电阻、阈值电压漂移及电流崩塌效应。

半导体结温度检定

利用脉冲 I-V 和高速 ADC 采样能力,可通过测量不同温度下器件的电学参数变化,精确校准半导体器件的结温,为热设计和可靠性评估提供关键数据支持。

电迁移研究

2651A 的大电流驱动能力(最高 50 A 脉冲)与 pA 级漏电流测量精度的组合,使其成为互连材料电迁移研究的理想平台,能够对测试结构施加高密度电流应力,同时精密监测电阻的微小变化。

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