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产品中心
RODUCTS
阻抗分析仪
型号：IM7587
品牌：日置（HIOKI）
特色：
● 测试电压测量频率：1MHz~3GHz
● 测量时间：快0.5ms（模拟测量时间）
● 测量值偏差：0.07%（用3GHz测量线圈1nH时）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头尺寸仅手掌大小
● 丰富的接触检查（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 分析模式下可以边扫描测量频率、测量信号电平边进行测量
型号：IM7585
品牌：日置（HIOKI）
特色：
● 测量频率：1MHz~1.3GHz
● 测量时间：快0.5ms（模拟测量时间）
● 测量值偏差：0.07%（测量频率1GHz时的代表值）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
型号：IM7583
品牌：日置(HIOKI)
特色：
● 测量频率：1MHz~600MHz
● 测量时间：快0.5ms（模拟测量时间）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
型号：IM7581
品牌：日置（HIOKI）
特色：
● 测量频率1MHz~300MHz
● 测量时间：快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
型号：IM7580A
品牌：日置（HIOKI）
特色：
测量频率1MHz~300MHz
测量时间：快0.5ms
基本精度±0.72%rdg.
紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
型号：IM3590
品牌：日置（HIOKI）
特色：
适用于离子运动和溶液电阻测量，1mHz ～ 200kHz的宽范围信号源
1台机器即可实现LCR测量、扫描测量的连续测量和高速检查
可测量电池的无负载状态产生的内部电阻
快2ms的高速测量，实现扫描测量的高速化
基本精度±0.05%，零件检查到研究开发测量均可对应
适用于Cole-Cole图、等效电路分析等电器化学零件和材料的电阻(LCR)测量
型号：IM3570
品牌：日置（HIOKI）
特色：
1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
LCR模式下快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
基本精度±0.08%的高精度测量
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
可以用于无线充电评价系统TS2400
搭配4ch扫描模块机架，更能实现2MHz阻抗的4ch测量
型号：IM7587
品牌：日置 (HIOKI)
特色：
● 测试电压测量频率：1MHz~3GHz
● 测量时间：最快0.5ms（模拟测量时间）
● 测量值偏差：0.07%（用3GHz测量线圈1nH时）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头尺寸仅手掌大小
● 丰富的接触检查（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 分析模式下可以边扫描测量频率、测量信号电平边进行测量
型号：日置HIOKIIM9201
品牌：日置（HIOKI）
特色：
● IM7580系列专用SMD测试治具
● 2种设备指南，可对应6种尺寸的SMD
● 对应SMD尺寸※1 0603, 1005, 1608, 2012, 3216, 3225
※1：JIS单位mm，相当于EIA0201～EIA1210尺寸
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