产品信息
产品简介
泰克 MDO3 系列(3 系列 MDO)混合域示波器是一款集模拟波形、数字逻辑和频谱分析于一体的紧凑型便携式仪器,仅重 5.3 kg。MDO3 系列提供 MDO32(2 通道)和 MDO34(4 通道)两种主机型号,带宽范围 100 MHz 至 1 GHz,搭载 11.6 英寸 1920×1080 全高清容性触摸屏,是同级别产品中显示面积最大的示波器。
MDO3 系列标配内置硬件频谱分析仪(9 kHz~1 GHz),可选升级至 3 GHz,是业内唯一在基础型号中免费提供硬件频谱分析仪的示波器平台。配合选配的 16 路数字逻辑通道、50 MHz 任意函数发生器、串行总线解码和功率分析功能,MDO3 系列为嵌入式系统调试、物联网无线测试和电源设计提供了高性价比的一体化解决方案。
产品优势
标配硬件频谱分析仪
MDO3 系列是业内唯一在基础型号中免费提供硬件频谱分析仪的示波器。标配 9 kHz~1 GHz 频谱分析功能,可选升级至 3 GHz。频谱分析仪采用独立 RF 输入通道,具备专业级的显示平均噪声(DANL 典型值 -140 dBm/Hz @ 5 MHz~2 GHz)、相位噪声(<-122 dBc/Hz @ 1 MHz 偏移)和电平精度(典型 <±0.4 dBm)。配合频谱图三维显示和 RF 对时间分析,为 EMI 调试和无线信号验证提供专业工具。
11.6 英寸全高清大屏
11.6 英寸(295 mm)1920×1080 全高清电容触控屏,提供同级别最大的显示面积。支持堆叠显示模式,每个波形独立占用满格线范围,避免多通道叠加时的视觉干扰。界面操作流畅直观,支持多点触控手势,大幅提升调试效率。
丰富的信号采集能力
1 GHz 型号最高支持 5 GS/s 采样率,所有型号标配 10 M 点记录长度。FastAcq 模式提供最高 280,000 wfms/s(1 GHz 型号)的波形捕获速率,峰值检测可捕获窄至 1.5 ns 的毛刺。MagniVu 高速数字采集在逻辑分析模式下提供 8.25 GS/s(121.2 ps 分辨率)的超高定时精度。
广泛的协议与功率分析
支持 I²C、SPI、RS-232/422/485/UART、CAN/CAN FD、LIN、FlexRay、I²S/LJ/RJ/TDM、MIL-STD-1553、ARINC 429 和 USB 2.0 等十余种串行总线协议的触发、解码和搜索。选配功率分析功能,支持电源质量、开关损耗、谐波(IEC61000-3-2/MIL-STD-1399)、纹波、调制分析和安全作业区(SOA)等全面测量。
高性价比与灵活性
MDO3 系列提供从 100 MHz 到 1 GHz 的带宽升级路径,所有选件支持购后升级。标配 3 年保修,免费提供数字电压表(DVM)和触发频率计数器(注册后激活)。紧凑轻便的设计(仅重 5.3 kg)适合实验室、产线和现场测试等多种场景。
产品参数
核心性能规格
参数 | 指标 | 备注 |
主机型号 | MDO32(2通道)/ MDO34(4通道) |
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带宽选项 | 100 MHz / 200 MHz / 350 MHz / 500 MHz / 1 GHz | 支持软件升级 |
最高采样率 | 2.5 GS/s(≤500 MHz)/ 5 GS/s(1 GHz) | 半通道模式 |
ADC 分辨率 | 8 位 | 高分辨率模式 11 位 |
记录长度 | 10 M 点 | 所有通道同时 |
波形捕获率 | >280,000 wfms/s(1 GHz) | FastAcq 模式 |
垂直系统
参数 | 指标 | 备注 |
输入耦合 | AC / DC |
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输入阻抗 | 1 MΩ ±1% / 50 Ω ±1% |
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灵敏度范围 | 1 mV/div ~ 10 V/div | 1-2-5 序列 |
DC 增益精度 | ±1.5%(≥5 mV/div) | 30°C 以上 0.1%/°C |
最大输入电压 | 300 VRMS CAT II(1 MΩ) | 5 VRMS(50 Ω) |
通道间隔离 | ≥100:1(≤100 MHz) | ≥30:1(>100 MHz) |
频谱分析仪
参数 | 指标 | 备注 |
频率范围(标配) | 9 kHz ~ 1 GHz | 免费标配 |
频率范围(选配) | 9 kHz ~ 3 GHz | 选件 3-SA3 |
DANL(典型值) | <-140 dBm/Hz | 5 MHz~2 GHz |
相位噪声 | <-122 dBc/Hz @ 1 MHz 偏移 | 1 GHz CW 典型值 |
电平精度(典型) | <±0.4 dBm | 18~28°C, 9 kHz~1.5 GHz |
二阶谐波失真 | <-60 dBc(典型) | >100 MHz |
RF 测量 | 通道功率/邻道功率比/占用带宽 |
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频谱图 | 频率×时间×幅度三维显示 |
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数字通道(选配 3-MSO)
参数 | 指标 | 备注 |
数字通道数 | 16 条(D15~D0) |
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最大采样率 | 500 MS/s(主控)/ 8.25 GS/s(MagniVu) | MagniVu 121.2 ps 分辨率 |
记录长度 | 10 M 点(主控)/ 10 k 点(MagniVu) |
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最小可检测脉冲 | 2 ns(典型值) |
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阈值范围 | -15 V ~ +25 V | 每 8 通道一组 |
任意函数发生器(选配 3-AFG)
参数 | 指标 | 备注 |
输出波形 | 正弦/方波/脉冲/锯齿/三角/DC/噪声/Sinc/高斯/洛伦兹/指数/半正矢/心电/任意波 | 13 种 |
正弦波频率 | 0.1 Hz ~ 50 MHz |
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任意波采样率 | 250 MS/s |
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任意波存储 | 1 ~ 128 k 点 |
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输出幅度 | 20 mVpp~5 Vpp(Hi-Z) | 10 mVpp~2.5 Vpp(50 Ω) |
调制 | AM / FM | 内部调制 100 mHz~50 kHz |
串行总线解码(选配)
总线类别 | 支持协议 | 最大速率 |
嵌入式 | I²C, SPI | I²C 10 Mb/s / SPI 50 Mb/s |
计算机 | RS-232/422/485/UART | 10 Mb/s |
汽车 | CAN, CAN FD, LIN, FlexRay | CAN FD 7 Mb/s |
航空 | MIL-STD-1553, ARINC 429 |
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音频 | I²S/LJ/RJ/TDM | 12.5/25 Mb/s |
USB | USB 2.0 LS/FS/HS | 1 GHz 型号支持 HS 解码 |
物理规格与接口
参数 | 指标 | 备注 |
显示屏 | 11.6 英寸(295 mm) | 1920×1080 电容触控 |
尺寸(H×W×D) | 252×370×149 mm |
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重量 | MDO32: 5.26 kg / MDO34: 5.31 kg |
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USB | 前2×USB2.0+后1×USB2.0 主控+1×USB2.0 设备 |
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LAN | 10/100 Mb/s | LXI Core 2011 |
HDMI | 19 针 HDMI 输出 |
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功耗 | 最大 130 W |
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工作温度 | 0°C ~ +55°C |
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保修 | 3 年 | 所有部件和人工 |
仪器配置
MDO3 系列提供灵活的硬件和软件选件配置体系:
硬件选件
- 主机选择:MDO32(2 通道,含辅助触发输入)或 MDO34(4 通道)
- 带宽升级:支持从 100 MHz 逐级升级至 1 GHz(500 MHz 以下可现场升级,1 GHz 需返厂)
- 频谱分析仪升级:3-SA3(扩展至 3 GHz)
- 数字通道:3-MSO(16 通道,含 P6316 逻辑探头)
- 任意函数发生器:3-AFG(50 MHz)
软件分析选件
- 3-BND:捆绑应用(所有串行选项 + 功率分析)
- 3-SREMBD:I²C, SPI 触发解码
- 3-SRCOMP:RS-232/422/485/UART 触发解码
- 3-SRUSB2:USB 2.0 LS/FS/HS 触发解码
- 3-SRAUTO:CAN/CAN FD/LIN/FlexRay 触发解码
- 3-SRAERO:MIL-STD-1553/ARINC 429 触发解码
- 3-SRAUDIO:I²S/LJ/RJ/TDM 触发解码
- 3-PWR:功率测量和分析(电源质量/开关损耗/谐波/纹波/SOA)
- 3-SEC:增强仪器安全性
推荐附件
- TPA-N-PRE:前置放大器(12 dB 增益,9 kHz~6 GHz)
- TPA-N-VPI:N 型至 TekVPI 适配器
- TEK-USB-488:GPIB 至 USB 适配器
- RM3:机架安装套件(6U)
- HC3:硬手提箱 / SC3:软搬运箱
产品型号
MDO3 系列提供 2 通道和 4 通道两种主机配置,通过带宽选项区分性能等级:
主机型号 | 模拟通道 | 带宽范围 | 最大采样率 |
MDO32 | 2 | 100 MHz ~ 1 GHz | 2.5 GS/s(≤500 MHz)/ 5 GS/s(1 GHz) |
MDO34 | 4 | 100 MHz ~ 1 GHz | 2.5 GS/s(≤500 MHz)/ 5 GS/s(1 GHz) |
MDO32 额外提供一个辅助触发输入(前面板 BNC),适合需要外部触发信号的应用场景。MDO34 提供 4 路模拟通道,适合多通道嵌入式系统调试。两款主机均标配硬件频谱分析仪(9 kHz~1 GHz),可通过选件扩展至 3 GHz。所有带宽和功能选件均支持购后升级,用户可根据测试需求变化灵活扩展。
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