Keithley 4200A-SCS半导体参数分析仪
类别:
产品信息
产品简介
Keithley 4200A-SCS 是行业内性能领先的电学特性参数分析仪,提供同步电流‑电压(I‑V)曲线测试、电容‑电压(C‑V)曲线测试和超快脉冲 I‑V 测量三大核心能力。系统采用模块化架构,最多可配置9 个插槽,灵活混搭源测量单元(SMU)、电容‑电压单元(CVU)和脉冲测量单元(PMU),覆盖从 10 aA 超低电流到 210 V 高压、从直流 I‑V 到 10 MHz C‑V 再到纳秒级脉冲测量的全范围测试需求。
4200A-SCS 内置 Clarius 软件平台,包含 200 余项预先配置的测试项目,支持实时参数提取、自动数据绘图和分析函数,可将从设置到运行检定测试的时间减少高达 50%。系统广泛应用于半导体器件表征、材料电阻率测试、MOSFET 参数提取、非易失性存储器(ReRAM/FeRAM)测试、NBTI/PBTI 可靠性分析以及高阻抗 C‑V 测量等前沿研究领域。
产品优势
三大测量能力同步集成
I‑V、C‑V 和脉冲 I‑V 三大测量功能在单一平台内无缝集成,无需在多个仪器之间切换或重新布线。4215‑CVU 支持 1 kHz 至 10 MHz宽频电容测量,内置 1 V AC 激励源(同类产品中独有),噪声低至 6 aF;脉冲 I‑V 模块(4225‑PMU)提供 ±40 V、±800 mA、200 MS/s 采样率的超快脉冲测量能力。
飞安级超低电流测量
标配 100 fA 电流测量分辨率,选配 4200‑PA 远程前置放大器后可达 0.1 fA(100 aA)分辨率。输入阻抗 >10¹⁶ Ω,确保高阻抗样本的精确测量。4201‑SMU 和 4211‑SMU 针对长电缆和高电容夹具(如 LCD 测试站、探测器、开关矩阵)进行了特殊优化。
模块化灵活配置
9 槽机箱支持 SMU、CVU、PMU 模块的任意组合,所有模块均支持现场安装,无需返厂即可扩展系统能力。4200A‑CVIV 多通道切换模块可在 I‑V 和 C‑V 测量之间自动切换,无需重新布线或抬起探头,大幅提升测试效率。
Clarius 软件加速测试流程
Clarius 软件内置 200+ 项用户可修改的应用程序测试,涵盖 I‑V、C‑V 和脉冲测试。提供真实数据示例(由 Keithley 工程师收集)、内置上下文帮助和应用程序指南。支持离线使用——可安装在任意Windows 10 PC 上进行测试规划数据分析。用户库支持定制任何设备测试。
ACS 自动化软件平台
可选配 ACS(自动化表征套件)软件,支持从单台仪器到完整测试机架的自动化控制。采用 Python 脚本编程,支持手动或自动晶圆探测器控制,提供数据管理和统计分析功能。4200‑BTI‑A 套件包含 NBTI/PBTI超快测试项目模块,可快速开展热载流子劣化评估。
探测器与低温控制器集成
原生支持 MPI、Cascade Microtech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories 等主流晶圆探测器,以及 LakeShore Model 336 低温控制器。提供『点击』测试定序、手动探测器模式和假探测器模式(无需移除命令即可调试),大幅简化晶圆上器件的自动化测试流程。
产品参数
系统核心规格总览
参数项目 | 规格 | 说明 |
测量能力 | I‑V / C‑V / 脉冲 I‑V 同步集成 | 三大测量合一 |
SMU 通道数 | 最多 9 个 | 取决于机箱插槽占用 |
电流测量范围 | 10 aA – 1 A | 100 fA 标准分辨率 |
电压测量范围 | 0.2 µV – 210 V | ±210 V 最大偏置 |
电容测量范围 | 1 kHz – 10 MHz | ±30 V 直流偏置 |
脉冲电压/电流 | ±40 V / ±800 mA | 200 MS/s,5 ns 采样 |
最低电容分辨率 | 单数字 fF(1 fF 电容器) | 4215‑CVU,噪声低至 6 aF |
输入阻抗 | >10¹⁶ Ω | 高阻抗样本精确测量 |
Clarius 测试项目 | 200+ 项预配置 | I‑V/C‑V/脉冲,可修改 |
自动化软件 | ACS(Python 脚本) | 可选配 |
接口 | GPIB / 以太网 / RS‑232 / USB | 控制外部仪器 |
最大采样率(脉冲) | 200 MS/s | 5 ns 时间分辨率 |
源测量单元(SMU)模块规格
模块型号 | 电流范围 | 电压范围 | 功率 | 主要特点 |
4200‑SMU | 100 mA | ±210 V | 2 W | 中功率,通用型 |
4201‑SMU | 100 mA | ±210 V | 2 W | 针对长电缆/大电容夹具优化 |
4210‑SMU | 1 A | ±210 V | 20 W | 高功率,大电流驱动 |
4211‑SMU | 1 A | ±210 V | 20 W | 高功率+长电缆优化 |
SMU 详细电气参数
参数 | 4200/4201‑SMU(中功率) | 4210/4211‑SMU(高功率) |
电压源量程 | ±210 V(4 量程) | ±210 V(4 量程) |
电压分辨率 | 0.2 µV | 0.2 µV |
电压基本精度 | 0.015% | 0.015% |
电流源量程 | 100 nA – 100 mA(7 量程) | 1 µA – 1 A(7 量程) |
电流分辨率 | 100 fA(100 nA 量程) | 1 pA(1 µA 量程) |
电流基本精度 | 0.05% | 0.05% |
最大输出功率 | 2 W | 20 W |
输入阻抗 | >10¹⁶ Ω | >10¹⁶ Ω |
低电流选项 | 选配 4200‑PA 前置放大器 | 选配 4200‑PA 前置放大器 |
最低电流分辨率 | 0.1 fA(配 4200‑PA) | 0.1 fA(配 4200‑PA) |
电容‑电压单元(CVU)模块规格
参数 | 4215‑CVU 规格 | 说明 |
频率范围 | 1 kHz – 10 MHz | 1 kHz 起,10 MHz 最高 |
频率分辨率 | 1 kHz | 10,000 个频率步进 |
AC 激励电压 | 1 V AC(典型) | 同类产品中独有集成 |
直流偏置范围 | ±30 V | 宽范围偏置扫描 |
测量参数 | 电容、电导、导纳 | 多参数同步测量 |
噪声水平 | 低至 6 aF | 测量 1 fF 电容器时 |
最大通道数 | 4 通道 | 配合 4200A‑CVIV 多路开关 |
超低频频 C‑V | 0.01 Hz – 10 Hz | 高电阻样本电容测量 |
电容分辨率 | 单数字 fF | 1 fF 电容器测量 |
超快脉冲 I‑V 测量单元(PMU)规格
参数 | 4225‑PMU 规格 | 说明 |
电压源量程 | ±10 V 或 ±40 V(可选) | 每个模块两个通道 |
电流测量量程 | 800 mA / 200 mA / 10 mA / 100 µA | 四档可选 |
采样率 | 200 MS/s | 每通道独立 ADC |
采样时间分辨率 | 5 ns | 超高精度时序控制 |
脉冲电压范围 | ±40 V(80 V p‑p) | 高压脉冲能力 |
脉冲电流范围 | ±800 mA | 大电流脉冲 |
典型应用 | NBTI/PBTI、ReRAM、FeRAM | 非易失性存储器测试 |
远程模块 | 4225‑RPM | 前置放大/开关,配 PMU 使用 |
高电压脉冲发生器单元(PGU)规格
参数 | 4220‑PGU 规格 | 说明 |
脉冲电压范围 | 最高 ±200 V | 高压脉冲生成 |
脉冲电流能力 | 与 PMU 配合同步 | PGU 生成,PMU 测量 |
典型应用 | 栅极介电击穿测试 | 高压脉冲应力测试 |
同步能力 | 与 4225‑PMU 同步 | 脉冲生成与测量一体 |
切换与路由模块
模块型号 | 功能描述 | 通道数 | 特点 |
4200A‑CVIV | I‑V / C‑V 测试自动切换开关 | 4 通道 | 无需重新布线 |
4225‑RPM | PMU 远程前置放大器/开关模块 | 2 通道/模块 | 配 4225‑PMU 使用 |
接口与物理规格
项目 | 规格 | 说明 |
控制接口 | GPIB / 以太网(LAN)/ RS‑232 | 连接外部仪器(开关矩阵、LCR 表、探针台) |
USB 接口 | 前面板 USB 端口 | 数据存储与程序传输 |
操作系统 | 嵌入式 PC,Windows 10 | Clarius 软件运行平台 |
显示器 | 集成液晶显示器 | 本地操作与实时查看 |
机架尺寸 | 标准机架安装(具体高度依配置) | 适用于实验室与量产测试环境 |
电源要求 | 100 – 250 V AC,50/60 Hz | 宽电压输入 |
工作环境 | 0 – 50 °C,相对湿度 0 – 80% | 实验室标准环境 |
校准周期 | 1 年 | 建议年度校准 |
质保 | 1 年 | 可延长至 3 年 |
仪器配置
标准配置
4200A‑SCS 主机(含嵌入式 PC、Windows 10、Clarius 基础软件)、电源线、用户文档 CD、GPIB 接口电缆、校准证书。
可选模块配置套件
套件型号 | 名称 | 主要组成 | 典型应用 |
4200A‑SCS‑PKA | 高分辨率 I‑V 套件 | 主机+2×4201‑SMU+1×4200‑PA+8101‑PIV | 基础半导体器件 I‑V 表征 |
4200A‑SCS‑PKB | 高分辨率 I‑V + C‑V 套件 | PKA+1×4215‑CVU+8101‑PIV | I‑V 与 C‑V 同步测量 |
4200A‑SCS‑PKC | 高功率 I‑V + C‑V 套件 | 主机+2×4201‑SMU+2×4211‑SMU+2×4200‑PA+1×4215‑CVU | 大功率器件全面表征 |
4200‑BTI‑A | 超快 NBTI/PBTI 套件 | 1×4225‑PMU+2×4225‑RPM+ACS+NBTI 测试模块 | 可靠性分析与 BTI 测试 |
主要可选配件
配件型号 | 名称 | 说明 |
4200‑PA | 远程前置放大器模块 | 将电流分辨率扩展至 0.1 fA |
4215‑CVU | 电容‑电压测量单元 | 1 kHz – 10 MHz C‑V 测量 |
4225‑PMU | 超快脉冲 I‑V 模块 | ±40 V/±800 mA,200 MS/s |
4220‑PGU | 高压脉冲发生器单元 | 最高 ±200 V 脉冲生成 |
4225‑RPM | PMU 远程前置放大器 | 配 4225‑PMU 使用 |
4200A‑CVIV | I‑V/C‑V 切换开关 | 4 通道,自动切换 |
8101‑PIV | PIV 测试夹具 | 适用于多种封装器件 |
ACS 软件 | 自动化表征套件 | Python 脚本,探测器控制 |
软件生态
Clarius 基础软件(标配)
包含 200+ 项预先配置的测试项目,涵盖 I‑V、C‑V 和脉冲 I‑V 测试。提供真实数据示例、内置上下文帮助、实时监控模式、自动参数提取、数据绘图和分析函数。支持离线使用,可安装在任意 Windows 10 PC 上。
Clarius+ 分析套件(可选)
在 4200A‑SCS 上本地运行,也可安装在任何 Windows 10 PC 上离线使用。提供测试规划、配置和高级分析功能,支持用户定制测试流程。
ACS 自动化表征套件(可选)
采用 Python 脚本编程,支持从单台仪器到完整测试机架的自动化控制。功能包括:设备检定、参数测试、可靠性测试、功能测试、手动或自动晶圆探测器控制、数据管理和统计分析。
典型应用
- 半导体器件 I‑V 表征:MOSFET 转移/输出特性、门限电压、跨导、亚阈值斜率、击穿电压
- 电容‑电压(C‑V)测量:MOSCap 氧化物厚度、掺杂浓度、移动离子浓度、高‑k 介质表征
- 可靠性分析:NBTI/PBTI(偏置温度不稳定性)、HCI(热载流子注入)、TDDB(经时介电击穿)、电迁移(EM)
- 非易失性存储器测试:浮栅闪存、ReRAM(电阻式 RAM)、FeRAM(铁电 RAM)脉冲 I‑V 检定
- 材料电阻率与霍尔电压:四点同轴探针、范德堡法(Van der Pauw)、碳纳米管等纳米器件
- 飞法电容与高阻抗测量:亚毫微微法拉(aF 级)电容测量、高电阻样本 C‑V 分析
- 生物传感器检定(BioFET):传输和输出特性测试,适用于新型生物电子器件研发
产品型号
4200A‑SCS 系统及模块型号列表
型号 | 名称 | 核心参数 | 定位 |
4200A‑SCS | 参数分析仪主机 | 9 槽机箱,含 Clarius 软件 | 主机平台 |
4200‑SMU | 中功率 SMU 模块 | 100 mA / ±210 V / 2 W | 通用 I‑V |
4201‑SMU | 中功率 SMU(优化) | 100 mA / ±210 V / 2 W | 长电缆/大电容 |
4210‑SMU | 高功率 SMU 模块 | 1 A / ±210 V / 20 W | 大功率 I‑V |
4211‑SMU | 高功率 SMU(优化) | 1 A / ±210 V / 20 W | 大功率+长电缆 |
4215‑CVU | 电容‑电压单元 | 1 kHz – 10 MHz / ±30 V | C‑V 测量 |
4225‑PMU | 超快脉冲 I‑V 模块 | ±40 V / ±800 mA / 200 MS/s | 脉冲 I‑V |
4220‑PGU | 高压脉冲发生器 | 最高 ±200 V | 高压脉冲应力 |
4225‑RPM | PMU 远程前置放大 | 配 4225‑PMU | 脉冲信号优化 |
4200‑PA | 远程前置放大器 | 电流分辨率扩展至 0.1 fA | 超低电流 |
4200A‑CVIV | I‑V/C‑V 切换开关 | 4 通道自动切换 | 切换模块 |
选型指南
应用场景 | 推荐配置 |
基础半导体 I‑V 表征 | 4200A‑SCS + 2×4201‑SMU + 4200‑PA |
I‑V + C‑V 同步测量 | 4200A‑SCS + 2×4201‑SMU + 4215‑CVU + 4200‑PA |
大功率器件全面表征 | 4200A‑SCS + 4210/4211‑SMU + 4215‑CVU |
NBTI/PBTI 可靠性分析 | 4200A‑SCS + 4225‑PMU + 4225‑RPM + ACS |
飞法级电容与高阻抗测量 | 4200A‑SCS + 4215‑CVU + 4200‑PA |
非易失性存储器脉冲测试 | 4200A‑SCS + 4225‑PMU + 4225‑RPM |
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