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RODUCTS
半导体参数分析仪
半导体参数分析仪
Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和高功率脉冲IV曲线测量。
可配置功率电平：
200V 至 3kV
1A 至 100A
宽动态范围：
µV 至 3kV
fA 至 100A
全量程容-电压 (C-V) 能力：
fF 至 µF
支持 2、3 和 4 端器件
高达 3kV DC 偏移
4200A-SCS是电学特性参数分析仪，提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和超快脉冲 I-V曲线测量。
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